Picometer-Level In Situ Manipulation of Ferroelectric Polarization in Van der Waals layered InSe

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 47 vom: 04. Nov., Seite e2404628
1. Verfasser: Gao, Hanbin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Liu, Ziyuan, Gong, Yue, Ke, Changming, Guo, Ning, Wu, Juanxia, Zeng, Xin, Guo, Jianfeng, Li, Songyang, Cheng, Zhihai, Li, Jiawei, Zhu, Hongwei, Zhang, Li-Zhi, Liu, Xinfeng, Liu, Shi, Xie, Liming, Zheng, Qiang
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article aberration‐corrected scanning transmission electron microscopy ferroelectric polarization in situ electric manipulation intralayer sliding van der Waals layered materials