Characterization of Surface Patterning on Polymer-Grafted Nanocubes Using Atomic Force Microscopy and Force Volume Mapping
Atomic force microscopy (AFM), in particular force spectroscopy, is a powerful tool for understanding the supramolecular structures associated with polymers grafted to surfaces, especially in regimes of low polymer density where different morphological structures are expected. In this study, we util...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1999. - 40(2024), 39 vom: 01. Okt., Seite 20464-20473
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1. Verfasser: |
Shipley, Wade
(VerfasserIn) |
Weitere Verfasser: |
Wang, Yufei,
Chien, Joelle,
Wang, Bin,
Tao, Andrea R |
Format: | Online-Aufsatz
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Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2024
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
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Schlagworte: | Journal Article |