Comparing single-shot damage thresholds of boron carbide and silicon at the European XFEL

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 31(2024), Pt 5 vom: 01. Sept., Seite 1067-1070
1. Verfasser: Tavakkoly, Marziyeh (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Chalupsky, Jaromir, Hajkova, Vera, Hillert, Wolfgang, Jelinek, Simon, Juha, Libor, Makita, Mikako, Mazza, Tommaso, Meyer, Michael, Montano, Jacobo, Sinn, Harald, Vozda, Vojtech, Vannoni, Maurizio
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article B4C coating X-ray mirrors XFEL damage threshold single-shot damage threshold