Machine Learning to Promote Efficient Screening of Low-Contact Electrode for 2D Semiconductor Transistor Under Limited Data

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© 2024 Wiley‐VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 26 vom: 15. Juni, Seite e2312887
1. Verfasser: Li, Penghui (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Dong, Linpeng, Li, Chong, Li, Yan, Zhao, Jie, Peng, Bo, Wang, Wei, Zhou, Shun, Liu, Weiguo
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article DFT NEGF limited data machine learning transport properties
Online verfügbar Volltext