Measuring Rolling Friction at the Nanoscale
Colloidal probe microscopy, a technique whereby a microparticle is affixed at the end of an atomic force microscopy (AFM) cantilever, plays a pivotal role in enabling the measurement of friction at the nanoscale and is of high relevance for applications and fundamental studies alike. However, in con...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1999. - 40(2024), 13 vom: 02. Apr., Seite 6750-6760
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| 1. Verfasser: |
Scherrer, Simon
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Ramakrishna, Shivaprakash N,
Niggel, Vincent,
Spencer, Nicholas D,
Isa, Lucio |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2024
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
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| Schlagworte: | Journal Article |
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