Self-Reporting Microsensors Inspired by Noctiluca Scintillans for Small-Defect Positioning and Electrical-Stress Visualization in Polymers

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 24 vom: 09. Juni, Seite e2313254
Auteur principal: Sima, Wenxia (Auteur)
Autres auteurs: Yang, Yuhang, Sun, Potao, Shi, Yuning, Yuan, Tao, Yang, Ming, Xiong, Hongbo, Tang, Xinyu, Niu, Chaolu
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2024
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article controllable dielectric structure dielectric polymers electrical‐stress visualization self‐reporting microsensor small‐defect positioning