Self-Reporting Microsensors Inspired by Noctiluca Scintillans for Small-Defect Positioning and Electrical-Stress Visualization in Polymers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 24 vom: 02. Juni, Seite e2313254
1. Verfasser: Sima, Wenxia (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yang, Yuhang, Sun, Potao, Shi, Yuning, Yuan, Tao, Yang, Ming, Xiong, Hongbo, Tang, Xinyu, Niu, Chaolu
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article controllable dielectric structure dielectric polymers electrical‐stress visualization self‐reporting microsensor small‐defect positioning