Switchable Chemical-Bond Reorganization for the Stable Charge Trapping in Amorphous Silicon Nitride

© 2023 Wiley-VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 9 vom: 21. März, Seite e2308054
1. Verfasser: Choi, Woon Ih (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Son, Won-Joon, Dronskowski, Richard, Oh, Youngtek, Yang, Seung-Yeul, Kwon, Uihui, Kim, Dae Sin
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article DFT calculations charge trap flash (CTF) charge trap mechanism crystal orbital Hamilton population (COHP) silicon nitrides