Inversion model for extracting chemically resolved depth profiles across liquid interfaces of various configurations from XPS data : PROPHESY

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 30(2023), Pt 5 vom: 01. Sept., Seite 941-961
1. Verfasser: Ozon, Matthew (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Tumashevich, Konstantin, Lin, Jack J, Prisle, Nønne L
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2023
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article X-ray photoelectron spectroscopy acquisition model atmospheric surfaces depth profile inversion algorithm