Ultralow-Dielectric-Constant Atomic Layers of Amorphous Carbon Nitride Topologically Derived from MXene

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 35(2023), 36 vom: 29. Sept., Seite e2301399
1. Verfasser: Wang, Haiyang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Du, Zhiguo, Cheng, Zongju, Cao, Zhenjiang, Ye, Yuxuan, Wang, Ziming, Wei, Juntian, Wei, Shiqiang, Meng, Xiangyu, Song, Li, Gong, Yongji, Yang, Shubin, Guo, Lin
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2023
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article MXene amorphous carbon nitride atomic layers dielectric constant topological conversion