Iridescence from Total Internal Reflection at 3D Microscale Interfaces : Mechanistic Insights and Spectral Analysis

© 2023 The Authors. Advanced Materials published by Wiley-VCH GmbH.

Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 35(2023), 19 vom: 20. Mai, Seite e2210665
Auteur principal: Sturniolo, Nathaniel E (Auteur)
Autres auteurs: Hirsch, Krista, Meredith, Caleb H, Beshires, Beau C, Khanna, Shawn, Rayes, Malak S, Gallegos, Michael A, McGee, Shannon, Kaehr, Bryan, Zarzar, Lauren D
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2023
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article Fourier plane interference microstructure optics structural color total internal reflection