Iridescence from Total Internal Reflection at 3D Microscale Interfaces : Mechanistic Insights and Spectral Analysis

© 2023 The Authors. Advanced Materials published by Wiley-VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 35(2023), 19 vom: 20. Mai, Seite e2210665
1. Verfasser: Sturniolo, Nathaniel E (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Hirsch, Krista, Meredith, Caleb H, Beshires, Beau C, Khanna, Shawn, Rayes, Malak S, Gallegos, Michael A, McGee, Shannon, Kaehr, Bryan, Zarzar, Lauren D
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2023
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Fourier plane interference microstructure optics structural color total internal reflection