Machine Learning for Optical Scanning Probe Nanoscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 35(2023), 34 vom: 05. Aug., Seite e2109171
1. Verfasser: Chen, Xinzhong (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Xu, Suheng, Shabani, Sara, Zhao, Yueqi, Fu, Matthew, Millis, Andrew J, Fogler, Michael M, Pasupathy, Abhay N, Liu, Mengkun, Basov, D N
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2023
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article artificial intelligence machine learning scanning near-field microscopy scattering-type scanning near-field optical microscopy