High-resolution electron time-of-flight spectrometers for angle-resolved measurements at the SQS Instrument at the European XFEL

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 29(2022), Pt 3 vom: 01. Mai, Seite 755-764
1. Verfasser: De Fanis, Alberto (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Ilchen, Markus, Achner, Alexander, Baumann, Thomas M, Boll, Rebecca, Buck, Jens, Danilevsky, Cyril, Esenov, Sergey, Erk, Benjamin, Grychtol, Patrik, Hartmann, Gregor, Liu, Jia, Mazza, Tommaso, Montaño, Jacobo, Music, Valerija, Ovcharenko, Yevheniy, Rennhack, Nils, Rivas, Daniel, Rolles, Daniel, Schmidt, Philipp, Sotoudi Namin, Hamed, Scholz, Frank, Viefhaus, Jens, Walter, Peter, Ziółkowski, Pawel, Zhang, Haiou, Meyer, Michael
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2022
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article FEL electron spectroscopy synchrotron time-of-flight spectrometer