Visualizing Ultrafast Defect-Controlled Interlayer Electron-Phonon Coupling in Van der Waals Heterostructures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 34(2022), 33 vom: 01. Aug., Seite e2106955
1. Verfasser: Liu, Huan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wang, Jiangcai, Liu, Yuanshuang, Wang, Yong, Xu, Lujie, Huang, Li, Liu, Dameng, Luo, Jianbin
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2022
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article defects heterostructures interlayer electron-phonon coupling ultrafast microscopy