Using diffraction losses of X-rays in a single crystal for determination of its lattice parameters as well as for monochromator calibration
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| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 29(2022), Pt 2 vom: 01. März, Seite 369-376 |
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| 1. Verfasser: | |
| Weitere Verfasser: | , , |
| Format: | Online-Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2022
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation |
| Schlagworte: | Journal Article X-ray glitches diffraction losses monochromator calibration single-crystal X-ray optics unit-cell parameter |
| Online verfügbar |
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