Using photoelectron spectroscopy to measure resonant inelastic X-ray scattering : a computational investigation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 29(2022), Pt 1 vom: 01. Jan., Seite 202-213
1. Verfasser: Higley, Daniel J (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Ogasawara, Hirohito, Zohar, Sioan, Dakovski, Georgi L
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2022
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article X-ray spectroscopy data analysis deconvolution photoelectron spectroscopy resonant inelastic X-ray scattering