Fermi Level Pinning Dependent 2D Semiconductor Devices : Challenges and Prospects

© 2022 The Authors. Advanced Materials published by Wiley-VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 34(2022), 15 vom: 15. Apr., Seite e2108425
1. Verfasser: Liu, Xiaochi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Choi, Min Sup, Hwang, Euyheon, Yoo, Won Jong, Sun, Jian
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2022
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Review 2D semiconductors Fermi level pinning electrical contacts field-effect transistors interface gap states