Intragranular strain estimation in far-field scanning X-ray diffraction using a Gaussian process

© Henningsson and Hendriks 2021.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 54(2021), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 1057-1070
Auteur principal: Henningsson, Axel (Auteur)
Autres auteurs: Hendriks, Johannes
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2021
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article Gaussian processes intragranular strain scanning X-ray diffraction three-dimensional X-ray diffraction (3DXRD)