Numerical Simulations and In Situ Optical Microscopy Connecting Flow Pattern, Crystallization, and Thin-Film Properties for Organic Transistors with Superior Device-to-Device Uniformity

Numerical Simulations and In Situ Optical Microscopy Connecting Flow Pattern, Crystallization, and Thin-Film Properties for Organic Transistors with Superior Device-to-Device Uniformity

© 2020 Wiley-VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 32(2020), 48 vom: 05. Dez., Seite e2004864
1. Verfasser: Lee, Jeong-Chan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lee, Minho, Lee, Ho-Jun, Ahn, Kwangguk, Nam, Jaewook, Park, Steve
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2020
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article crystallization device uniformity flow patterns organic transistors thin films
Online verfügbar Volltext