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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 32(2020), 42 vom: 17. Okt., Seite e2004370
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1. Verfasser: |
Goswami, Sreetosh
(VerfasserIn) |
Weitere Verfasser: |
Deb, Debalina,
Tempez, Agnès,
Chaigneau, Marc,
Rath, Santi Prasad,
Lal, Manohar,
Ariando,
Williams, R Stanley,
Goswami, Sreebrata,
Venkatesan, Thirumalai |
Format: | Online-Aufsatz
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Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2020
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
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Schlagworte: | Journal Article
conductive atomic force microscopy
memristor
tip enhanced Raman spectroscopy
transition metal complex
uniformity |