Direct non-destructive total reflection X-ray fluorescence elemental determinations in zirconium alloy samples
The development of a direct non-destructive synchrotron-radiation-based total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analytical methodology for elemental determinations in zirconium alloy samples is reported for the first time. Discs, of diameter 30 mm and about 1.6 mm thickness, of the zirconium allo...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 27(2020), Pt 5 vom: 01. Sept., Seite 1253-1261
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| 1. Verfasser: |
Sanyal, Kaushik
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Kanrar, Buddhadev,
Dhara, Sangita,
Sibilia, Mirta,
Sengupta, Arijit,
Karydas, Andreas Germanos,
Mishra, Nand Lal |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2020
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation
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| Schlagworte: | Journal Article
TXRF
Zircalloy
low- and high-Z elements
non-destructive analysis
synchrotron |
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