Blocking Ion Migration Stabilizes the High Thermoelectric Performance in Cu2 Se Composites

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 32(2020), 40 vom: 30. Okt., Seite e2003730
Auteur principal: Yang, Dongwang (Auteur)
Autres auteurs: Su, Xianli, Li, Jun, Bai, Hui, Wang, Shanyu, Li, Zhi, Tang, Hao, Tang, Kechen, Luo, Tingting, Yan, Yonggao, Wu, Jinsong, Yang, Jihui, Zhang, Qingjie, Uher, Ctirad, Kanatzidis, Mercouri G, Tang, Xinfeng
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2020
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article Cu2Se Schottky junction mixed ionic-electronic conductors stable thermoelectric materials thermoelectric properties