© Thomas Wicht et al. 2020.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 1080-1086
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| 1. Verfasser: |
Wicht, Thomas
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Müller, Stephan,
Weingärtner, Roland,
Epelbaum, Boris,
Besendörfer, Sven,
Bläß, Ulrich,
Weisser, Matthias,
Unruh, Tobias,
Meissner, Elke |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2020
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of applied crystallography
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| Schlagworte: | Journal Article
X-ray diffraction
X-ray topography
aluminium nitride
dislocations |
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