Dynamical X-ray diffraction imaging of voids in dislocation-free high-purity germanium single crystals

© Kevin-P. Gradwohl et al. 2020.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 880-884
Auteur principal: Gradwohl, Kevin-P (Auteur)
Autres auteurs: Danilewsky, Andreas N, Roder, Melissa, Schmidbauer, Martin, Janicskó-Csáthy, József, Gybin, Alexander, Abrosimov, Nikolay, Sumathi, R Radhakrishnan
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2020
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article X-ray topography diffraction contrast dislocation density dynamical theory high-purity germanium vacancies voids