Imaging Beam-Sensitive Materials by Electron Microscopy

© 2020 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 32(2020), 16 vom: 28. Apr., Seite e1907619
1. Verfasser: Chen, Qiaoli (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Dwyer, Christian, Sheng, Guan, Zhu, Chongzhi, Li, Xiaonian, Zheng, Changlin, Zhu, Yihan
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2020
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Review 2D materials MOFs beam-sensitive materials electron microscopy low dose