Detecting and Removing Defects in Organosilane Self-Assembled Monolayers

Defects occur as self-assembled monolayers form, and the number and type of defects depend on the surface preparation and deposition solvent, among other parameters. Indirect measures to detect defects using a layer property, such as the thickness or bond vibrational frequency, are used routinely fo...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1985. - 36(2020), 10 vom: 17. März, Seite 2563-2573
1. Verfasser: Hinckley, Adam P (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Muscat, Anthony J
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2020
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:Journal Article