White beam diagnostics using X-ray back-scattering from a CVD diamond vacuum window

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Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 27(2020), Pt 1 vom: 01. Jan., Seite 37-43
Auteur principal: van Silfhout, Roelof (Auteur)
Autres auteurs: Pothin, Daniel, Martin, Thierry
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2020
Accès à la collection:Journal of synchrotron radiation
Sujets:Journal Article X-ray beam diagnostics beam position monitoring transmission white beam monitor