Scanning Probe Lithography Patterning of Monolayer Semiconductors and Application in Quantifying Edge Recombination

© 2019 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 31(2019), 48 vom: 05. Nov., Seite e1900136
1. Verfasser: Zhao, Peida (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wang, Ruixuan, Lien, Der-Hsien, Zhao, Yingbo, Kim, Hyungjin, Cho, Joy, Ahn, Geun Ho, Javey, Ali
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article 2D materials edge recombination velocity scanning probe lithography