AFM-Based Spin-Exchange Microscopy Using Chiral Molecules

© 2019 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 31(2019), 40 vom: 13. Okt., Seite e1904206
1. Verfasser: Ziv, Amir (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Saha, Abhijit, Alpern, Hen, Sukenik, Nir, Baczewski, Lech Tomasz, Yochelis, Shira, Reches, Meital, Paltiel, Yossi
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article atomic force microscopy chiral molecules magnetic imaging spin exchange