© 2019 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 31(2019), 36 vom: 08. Sept., Seite e1902099
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| 1. Verfasser: |
Zhang, Yi
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Lu, Haidong,
Yan, Xingxu,
Cheng, Xiaoxing,
Xie, Lin,
Aoki, Toshihiro,
Li, Linze,
Heikes, Colin,
Lau, Shu Ping,
Schlom, Darrell G,
Chen, Longqing,
Gruverman, Alexei,
Pan, Xiaoqing |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2019
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
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| Schlagworte: | Journal Article
conductive atomic force microscopy
domain walls
ferroelectric films
intrinsic conductance
piezoresponse force microscopy |
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