Modern Scattering-Type Scanning Near-Field Optical Microscopy for Advanced Material Research

Modern Scattering-Type Scanning Near-Field Optical Microscopy for Advanced Material Research

© 2019 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 31(2019), 24 vom: 15. Juni, Seite e1804774
1. Verfasser: Chen, Xinzhong (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Hu, Debo, Mescall, Ryan, You, Guanjun, Basov, D N, Dai, Qing, Liu, Mengkun
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Review SNOM infrared near-field microscope near-field optics s-SNOM terahertz
Online verfügbar Volltext