Electron Transfer in Nanoscale Contact Electrification : Effect of Temperature in the Metal-Dielectric Case

© 2019 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 31(2019), 17 vom: 17. Apr., Seite e1808197
1. Verfasser: Lin, Shiquan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Xu, Liang, Xu, Cheng, Chen, Xiangyu, Wang, Aurelia C, Zhang, Binbin, Lin, Pei, Yang, Ya, Zhao, Huabo, Wang, Zhong Lin
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Kelvin probe force microscopy contact electrification electron transfer temperature effect