Electrochemical Modification and Characterization of Topological Insulator Single Crystals
We compare electrochemically modified or thiol-functionalized single-crystal samples of the topological insulator (TI) Bi2Te0.9Se2.1 to freshly cleaved/air-exposed control samples and use X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) to investigate the extent of any surface oxidation. XPS spectra for a TI...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 35(2019), 8 vom: 26. Feb., Seite 2983-2988
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| 1. Verfasser: |
Yang, Chaolong
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Cattelan, Mattia,
Fox, Neil,
Huang, Yingkai,
Golden, Mark S,
Schwarzacher, Walther |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2019
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
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| Schlagworte: | Journal Article |
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