Probing the Surface Charge on the Basal Planes of Kaolinite Particles with High-Resolution Atomic Force Microscopy
High-resolution atomic force microscopy is used to map the surface charge on the basal planes of kaolinite nanoparticles in an ambient solution of variable pH and NaCl or CaCl2 concentration. Using DLVO theory with charge regulation, we determine from the measured force-distance curves the surface c...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 33(2017), 50 vom: 19. Dez., Seite 14226-14237
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| 1. Verfasser: |
Kumar, N
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Andersson, M P,
van den Ende, D,
Mugele, F,
Siretanu, I |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2017
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
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| Schlagworte: | Journal Article
Research Support, Non-U.S. Gov't |
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