Mapping Nanostructural Variations in Silk by Secondary Electron Hyperspectral Imaging

© 2017 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 29(2017), 47 vom: 14. Dez.
1. Verfasser: Wan, Quan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Abrams, Kerry J, Masters, Robert C, Talari, Abdullah C S, Rehman, Ihtesham U, Claeyssens, Frederik, Holland, Chris, Rodenburg, Cornelia
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2017
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article SEM imaging polymers proteins silks