Nanometer-Scale Phase Transformation Determines Threshold and Memory Switching Mechanism

© 2017 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 29(2017), 30 vom: 01. Aug.
1. Verfasser: Chae, Byeong-Gyu (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Seol, Jae-Bok, Song, Jeong-Hwan, Baek, Kyungjoon, Oh, Sang-Ho, Hwang, Hyunsang, Park, Chan-Gyung
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2017
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article atom probe microscopy conductive filaments phase transformations resistive switching transmission electron microscopy