Multiparametric Kelvin Probe Force Microscopy for the Simultaneous Mapping of Surface Potential and Nanomechanical Properties
We report high-resolution multiparametric kelvin probe force microscopy (MP-KPFM) measurements for the simultaneous quantitative mapping of the contact potential difference (CPD) and nanomechanical properties of the sample in single-pass mode. This method combines functionalities of the force-distan...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 33(2017), 11 vom: 21. März, Seite 2725-2733
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| 1. Verfasser: |
Xie, Hui
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Zhang, Hao,
Hussain, Danish,
Meng, Xianghe,
Song, Jianmin,
Sun, Lining |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2017
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
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| Schlagworte: | Journal Article
Research Support, Non-U.S. Gov't |
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