SIFTing Through Scales
Scale invariant feature detectors often find stable scales in only a few image pixels. Consequently, methods for feature matching typically choose one of two extreme options: matching a sparse set of scale invariant features, or dense matching using arbitrary scales. In this paper, we turn our atten...
Veröffentlicht in: | IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence. - 1979. - 39(2017), 7 vom: 02. Juli, Seite 1431-1443 |
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1. Verfasser: | |
Weitere Verfasser: | , , |
Format: | Online-Aufsatz |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2017
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence |
Schlagworte: | Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't |
Online verfügbar |
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