Scanning Kelvin Probe Microscopy Investigation of the Role of Minority Carriers on the Switching Characteristics of Organic Field-Effect Transistors

Scanning Kelvin Probe Microscopy Investigation of the Role of Minority Carriers on the Switching Characteristics of Organic Field-Effect Transistors

© 2016 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 28(2016), 23 vom: 25. Juni, Seite 4713-9
1. Verfasser: Hu, Yuanyuan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Pecunia, Vincenzo, Jiang, Lang, Di, Chong-An, Gao, Xike, Sirringhaus, Henning
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2016
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article minority carriers organic transistors scanning Kelvin probe microscopy
Online verfügbar Volltext