Structure evolution of poly(3-hexylthiophene) on Si wafer and poly(vinylphenol) sublayer
The structure evolution of P3HT thin films on Si wafer and PVPh covered Si wafer during heating, thermal annealing, and melt recrystallization processes has been studied in detail using X-ray analysis techniques. The effect of substrate on the crystallization behavior and interface structure of P3HT...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 30(2014), 25 vom: 01. Juli, Seite 7585-92
|
|---|
| 1. Verfasser: |
Sun, Xiaoli
(VerfasserIn) |
|---|
| Weitere Verfasser: |
Ren, Zhongjie,
Liu, Junteng,
Takahashi, Isao,
Yan, Shouke |
|---|
| Format: | Online-Aufsatz
|
|---|
| Sprache: | English |
|---|
| Veröffentlicht: |
2014
|
|---|
| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
|
|---|
| Schlagworte: | Journal Article |
|---|