Comparative electrostatic force microscopy of tetra- and intra-molecular G4-DNA

© 2014 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 26(2014), 29 vom: 06. Aug., Seite 4981-5
1. Verfasser: Livshits, Gideon I (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Ghabboun, Jamal, Borovok, Natalia, Kotlyar, Alexander B, Porath, Danny
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2014
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Comparative Study Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't DNA nanoelectronics G4-DNA electrostatic force microscopy (EFM) molecular electronics DNA 9007-49-2