A general approach for fast detection of charge carrier type and conductivity difference in nanoscale materials

A general approach for fast detection of charge carrier type and conductivity difference in nanoscale materials

© 2013 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 25(2013), 48 vom: 23. Dez., Seite 7015-9
1. Verfasser: Jiang, Lili (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wu, Bin, Liu, Hongtao, Huang, Yuan, Chen, Jianyi, Geng, Dechao, Gao, Hongjun, Liu, Yunqi
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2013
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't asymmetric polarization atomic force microscopy charge carrier type two-dimensional materials
Online verfügbar Volltext