High-resolution X-ray diffraction and imaging
This issue of Journal of Applied Crystallography includes some highlights of the 11th Biennial Conference on High-Resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP), held in St Petersburg in 2012
| Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 46(2013), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 841 |
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| Weitere Verfasser: | , |
| Format: | Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2013
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of applied crystallography |
| Schlagworte: | Journal Article editorial high-resolution X-ray diffraction imaging |