An X-ray Raman spectrometer for EXAFS studies on minerals : bent Laue spectrometer with 20 keV X-rays
An X-ray Raman spectrometer for studies of local structures in minerals is discussed. Contrary to widely adopted back-scattering spectrometers using ≤10 keV X-rays, a spectrometer utilizing ~20 keV X-rays and a bent Laue analyzer is proposed. The 20 keV photons penetrate mineral samples much more de...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 20(2013), Pt 2 vom: 21. März, Seite 266-71
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| 1. Verfasser: |
Hiraoka, N
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Fukui, H,
Tanida, H,
Toyokawa, H,
Cai, Y Q,
Tsuei, K D |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2013
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation
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| Schlagworte: | Journal Article
Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S.
EXAFS
X-ray Raman scattering
bent Laue analyzer
inelastic X-ray scattering |
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