Electric-field screening in atomically thin layers of MoS₂ the role of interlayer coupling

Electric-field screening in atomically thin layers of MoS₂ : the role of interlayer coupling

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 25(2013), 6 vom: 13. Feb., Seite 899-903
1. Verfasser: Castellanos-Gomez, Andres (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Cappelluti, Emmanuele, Roldán, Rafael, Agraït, Nicolás, Guinea, Francisco, Rubio-Bollinger, Gabino
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2013
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't
Beschreibung
Beschreibung:Date Completed 20.08.2013
Date Revised 30.09.2020
published: Print-Electronic
Citation Status PubMed-not-MEDLINE
ISSN:1521-4095
DOI:10.1002/adma.201203731