Synchrotron microanalysis techniques applied to potential photovoltaic materials

X-ray synchrotron radiation techniques are used to characterize photovoltaic-related semiconductors. Micro-X-ray-fluorescence and X-ray beam induced current mapping of multicrystalline silicon photovoltaic cells show metallic impurities accumulating at the interface of crystallographic defects, and...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 19(2012), Pt 4 vom: 15. Juli, Seite 521-4
1. Verfasser:	Villanova, Julie (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Segura-Ruiz, Jaime, Lafford, Tamzin, Martinez-Criado, Gema
Format:	Online-Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2012
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article