Surface potential mapping of SAM-functionalized organic semiconductors by Kelvin probe force microscopy

Surface potential mapping of SAM-functionalized organic semiconductors by Kelvin probe force microscopy

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 23(2011), 4 vom: 25. Jan., Seite 502-7
1. Verfasser: Ellison, David J (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lee, Bumsu, Podzorov, V, Frisbie, C Daniel
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2011
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't Naphthacenes rubrene 517-51-1
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