High-resolution transmission X-ray microscopy : A new tool for mesoscopic materials
Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 22(2010), 30 vom: 10. Aug., Seite 3256-9 |
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Format: | Online-Aufsatz |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2010
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) |
Schlagworte: | Journal Article Silicon Z4152N8IUI |
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