Interfacial trap density-of-states in pentacene- and ZnO-based thin-film transistors measured via novel photo-excited charge-collection spectroscopy

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 22(2010), 30 vom: 10. Aug., Seite 3260-5
1. Verfasser: Lee, Kimoon (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Oh, Min Suk, Mun, Sung-jin, Lee, Kwang H, Ha, Tae Woo, Kim, Jae Hoon, Park, Sang-Hee Ko, Hwang, Chi-Sun, Lee, Byoung H, Sung, Myung M, Im, Seongil
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2010
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't Naphthacenes pentacene 9FQU5HA0UY Zinc Oxide SOI2LOH54Z